超大规模集成电路中的可测试性设计(DFT)

IC人有奖问卷调查（无记名）实时抽奖，600份好礼！本文翻译自印度工程师，原文链接：https://technobyte.org/what-is-dft-design-for-testability-introduction/目录如下： 什么是Design for Tesability，我们为什么需要它？芯片在制造过程中的问题解决问题的办法：DFTDFT的作用测试时序电路优化芯片制造过程DFT可以永久的消除故障吗？验证和测试的关系？验证和测试的不同点职业选择？验证 vs DFT术语介绍测试的分类芯片失效的来源失效的分类DFT技术详解专用DFT技术结构化DFT技术总结1.什么是Design for Tesability，我们为什么需要它？a. 芯片在制造过程中的问题如今，半导体是整个电子行业不断发展的核心。新技术的发展，尤其是先进技术节点，如7nm及以下工艺，使集成电路行业能够跟上消费者不 ………………………………