“不会用FIB制备TEM样品，真的容易被拒稿！”保姆级FIB攻略火遍全网······

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🔬透射电子显微镜（TEM）是使用最为广泛的电子显微镜之一，由于电子的穿透能力较弱，样品制样效果对测试结果起到直接的影响！ 🔆FIB具有对样品污染和损害程度相对低、可实现低温或者特殊环境条件下的切割、成像和分析的特点，已成为材料科学、生物、半导体等领域不可或缺的制样手段！ 🌟FIB是什么呢？ 聚焦离子束（Focused Ion beam，FIB）是将一束离子聚焦并对样品表面进行扫描，它类似于扫描电镜（SEM）。不同于SEM的是，FIB可同时进行表面成像及表面的纳米加工，SEM只能进行表面成像。 🌟FIB的主要应用有哪些？ ✅TEM透射样品制备（FIB+TEM）：针对表面薄膜，涂层，粉末大颗粒、块体等试样，通过对规定位置精确定位切割来制备TEM试样。 ✅微加工：微纳结构直接成形加工、材料沉积加工、指定点加工等。 ✅剖面分析（SEM/EDS）：FIB准确定 ………………………………