显微分析进阶技能——STEM扫描透射电镜技术讲座即将开讲

电子显微技术在材料表面分析领域有着重要应用，我们一般常用的显微分析手段有透射电子显微镜(TEM)，扫描电子显微镜(SEM)，原子力显微镜（AFM）、电子背散射衍射（EBSD）等等（想要了解更多以上分析技术，可以下载材料人APP学习相关课程）。现在，材料人即将推出STEM技术线上课程，着眼于“STEM可以帮助我获得什么信息”以及“如何得到我想要的信息”，为大家讲解STEM的基本知识和技能。课程内容第一讲 STEM基础知识i.什么是STEM？有什么优缺点？ii.STEM构造（用户需要知道的关键部分）及名词解释iii.为什么用电子？什么决定了分辨率？iv.STEM和TEM有什么区别？如何选择？v.什么是“球差电镜”？vi.透镜需要什么样品？如何制备？第二讲 什么是高角环形暗场像HAADF和Z衬 ………………………………