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点击上方“蓝字”关注我们 SEU(Single-Event-Upset) 单粒子翻转缓解技术大幅降低维护成本 有效提升全天关键应用运行时间 全球专业内存与存储解决方案先驱者SMART Modular世迈科技宣布推出专属SEU缓解技术,用来减轻SEU(Single-Event-Upset)单粒子翻转对高可靠性闪存系统造成的损害性影响。SMART Modular MP3000 NVMe SSD采用SEU缓解技术,将每百万单位的年故障率从高达17,500次大幅降低至不到10次,从而大幅减少数十万美元的潜在维护成本,并有助于确保数百小时的不间断运行时间,对于难以维护的远端部署效益显著。 SMART Modular Specialty Memory副总裁Satya Iyer表示,「我们符合业界标准的SATA和PCIe NVMe开机碟,能够从单粒子翻转导致的软错误中恢复,将年故障率降低高达99.7%。对于部署在偏远且难以提供维修服务地点的网通和电信设备,SEU缓解技术提供了从软错误中
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