新加坡国立大学欧阳建勇团队《AFM》：地形扫描电子显微镜揭示材料的三维表面结构

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扫描电子显微镜（SEM）是一种在学术界和工业界都非常流行的技术，用于分析各种材料的表面形貌。它要求在非导电样品上沉积像金这样的金属薄膜，以防电荷积聚影响成像效果。但是，金膜溅射沿垂直方向的不连续和自身纳米晶粒结构，导致SEM图像不能提供沿样品垂直方向的信息也不适用于某些纳米结构材料，并且分辨率有限。 最近， 新加坡国立大学和新加坡国立大学重庆研究院的 欧阳建勇教授 团队 发现 在样品表面旋涂 PEDOT:PSS 可以在表面和侧面形成连续的导电聚合物涂层，从而其 SEM 表征能够揭示材料的三维表面结构。他们把这种技术命名为地形扫描电子显微镜。 加入了 乙二醇（EG）或是二甲基亚砜（DMSO）的PEDOT:PSS薄膜电导率分别达到 1000 S·cm -1 左右，并且具有表面能低（71.7 mJ·m -2 ）、RMS粗糙度小（0.7 nm）、光滑且无明显表面特征的性 ………………………………