中国科学院合肥物质科学研究院Infomat：MoTe₂/Si 2D-3D异质结光电二极管短波红外计算成像

主要观点总结

文章介绍了一种基于MoTe₂/Si异质结光电二极管的新型短波红外计算成像系统，突破了传统SWIR成像技术的限制，实现了高信噪比的SWIR成像。该系统结合了高性能二维MoTe₂/Si探测器与计算成像技术，无需机械扫描，简化了配置，可在低采样率下实现高分辨率成像。

关键观点总结

关键观点1: 新型短波红外计算成像系统的优势

该系统巧妙地将单像素计算成像（SPI）技术与高性能二维MoTe₂/Si探测器相结合，突破了传统阵列探测器的限制，无需机械扫描，简化了配置，可在低采样率下实现高分辨率成像。

关键观点2: MoTe₂/Si异质结光电二极管的特性

该研究中设计了一种MoTe₂/Si异质结光电探测器，具有超宽的光谱范围（265-1550纳米）、高灵敏度，并且能呈现优异的弱光探测能力。

关键观点3: 计算成像系统的应用

该成像系统在强散射环境和低采样率条件下仍能实现高质量的物体成像，证明了其强大的实用性和可靠性。

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点击蓝字 关注我们 摘  要 短波红外（SWIR）波段（0.9-2.5 μm）在光学通信、医疗诊断、工业制造和环境监测等领域展现出独特的优势。与可见光相比，SWIR具有更好的穿透能力，同时其分辨率也优于中远红外成像。然而，传统的SWIR成像技术面临诸多挑战：焦平面阵列（FPA）传感器成本高且工艺复杂；现有材料如InGaAs和HgCdTe等由于带隙较小，难以有效抑制暗电流，需在低温下工作。此外，这些材料与硅基技术不兼容，导致集成难度较大。 为突破这些限制， 中国科学院合肥物质科学研究院与郑州大学组成的联合研究团队 开发了基于MoTe₂/Si异质结光电二极管的新型短波红外计算成像系统。该系统巧妙地将单像素计算成像（SPI）技术与高性能二维MoTe₂/Si探测器相结合，不仅突破了传统阵列探测器的限制，还实现了对目标物体的高信噪比SWIR成像。相关研 ………………………………