主要观点总结
本文介绍了透射电镜（TEM）样品制备的基本要求、技术和方法。首先，样品制备是确保获得有价值TEM结果的重要步骤，需要满足保持原始结构、尽可能薄、具备物理支撑和机械稳定性、脱水或冷冻以及最好具有导电性等要求。其次，文中提到了多种样品制备方法，包括材料样品和生物样品的制备技术，如材料样品的载网法、离子减薄、电解抛光、聚焦离子束（FIB）和超薄切片法，以及生物样品的一些特殊技术。每种方法都适用于不同的样品类型，如金属、陶瓷、聚合物、细胞、组织和生物颗粒，并且在实际应用中需根据样品特性和需求进行选择。此外，文中还详细描述了样品制备的具体步骤和注意事项，如样品切割、研磨、抛光、凹坑加工、离子减薄、电解抛光和超薄切片等，以及使用等离子清洗技术进行样品清洁的方法。
关键观点总结
关键观点1: 样品制备的重要性
样品制备是确保获得有价值TEM结果的重要步骤，需要满足多个基本要求，如保持原始结构、尽可能薄、具备物理支撑和机械稳定性、脱水或冷冻以及最好具有导电性等。
关键观点2: 样品制备方法
文中介绍了多种样品制备方法，包括材料样品和生物样品的制备技术，如材料样品的载网法、离子减薄、电解抛光、聚焦离子束（FIB）和超薄切片法，以及生物样品的一些特殊技术。每种方法都适用于不同的样品类型，并且在实际应用中需根据样品特性和需求进行选择。
关键观点3: 样品制备的具体步骤和注意事项
文中详细描述了样品制备的具体步骤和注意事项，如样品切割、研磨、抛光、凹坑加工、离子减薄、电解抛光和超薄切片等，以及使用等离子清洗技术进行样品清洁的方法。
文章预览
使用透射电镜（ TEM ）的第一步是样品制备，这步骤是确保获得有价值 TEM 结果的重中之重。制备的 TEM 样品一般需满足以下几个基本要求： 1. 保持样品的原始结构：尽量减少人工痕迹，即使引入也必须可识别； 2. 尽可能薄：样品厚度至少需小于 100 纳米，确保电子束能够穿透； 3. 具备物理支撑：以利于样品架的装载和取出； 4. 具备机械稳定性：避免因震动导致图像缺陷； 5. 样品需脱水或冷冻：以减轻在真空环境下的蒸气或气体释放； 6. 最好具有导电性：避免充电效应带来的损伤； 7. 表面需清洁：最大限度减少污染。 若样品无法完全符合上述要求，则需在 TEM 操作中应用特殊技术。例如，对于极度电子束敏感的样品，如生物软物质，可以采用低剂量成像技术以保护样品。 样品制备方法需基于样品种类、性质以及所需信息进行选择。目前已
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