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通过光学响应，探测基态量子几何和拓扑结构，不仅具有重要意义，而且还可提供一些实际优势。 近日，东北大学（Northeastern University）Barun Ghosh，Arun Bansil等，麻省理工学院（Massachusetts Institute of Technology）Liang Fu等，通过对反铁磁拓扑绝缘体锰铋碲MnBi2Te4薄膜的第一性原理计算，报道了利用光导电率的吸收部分（Hermitian量）产生了广义光权量，探测了基态量子几何和拓扑。 （注：光导电率 (Optical Conductivity): 虚部的介电函数与金属或导体的光导电率相关。光导电率描述了材料对光的导电性响应，通常与电导率有关） 研究发现，在红外区域的窄光子能量窗口中，三个七层septuple-layer (SL) MnBi2Te4薄膜表现出了增强的、几乎完美的磁圆二色性。还计算了这种MnBi2Te4薄膜中的量子重量，并表明远远超过了陈数提供的下限。研究表明，众所周知的光学方法是探
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