港科大联手思谋新作：Defect Spectrum数据集重新定义AI工业质检

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关注公众号，发现CV技术之美 AI 技术应用落地的元年，工业是主战场，尤其是工业缺陷检测。 在“生产制造-缺陷检测-工艺优化-生产制造”的智能制造闭环链条中，基于AI的智能缺陷检测扮演着“把关者”的角色。但这个把关者长期以来却缺少一个称手的工具——样本量大、精度高、语义丰富的缺陷数据集。 近日，ECCV2024接收的一篇论文引起业界广泛关注，该工作提出了Defect Spectrum缺陷数据集及DefectGen缺陷生成模型，主攻工业智能检测，可解决模型无法识别的缺陷类别和位置问题，有效提升10.74%召回率，降低33.1%过杀率。 这是港科广和专注于智能制造领域的人工智能独角兽思谋科技联合发布的又一杰作。去年，该合作团队提出的《Ref-NeuS: Ambiguity-Reduced Neural Implicit Surface Learning for Multi-View Reconstruction with Reflection》被选为ICCV最佳论文候选。 Project Page: ………………………………