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「技术介绍」提高SiC Trench MOSFET可靠性的一种制备方法

芯达茂微电子  · 公众号  ·  · 2024-07-23 08:55
    

主要观点总结

本文主要介绍了功率MOSFET在功率器件领域的应用背景,以及Super Junction MOS的特点和现有技术的问题。针对这些问题,芯达茂提出了一种新的Super Junction MOS器件制备方法和结构,通过加入Split-gate结构来降低Qg和提高开关速度。文章还详细描述了这种制备方法的流程。

关键观点总结

关键观点1: 功率MOSFET和Super Junction MOS的应用及问题

文章介绍了功率MOSFET在开关器件结构中的广泛应用,以及Super Junction MOS的特点。现有Super Junction MOS存在Qg不够小、开关速度慢的问题,需要新的技术和方法来解决。

关键观点2: 芯达茂的Super Junction MOS器件制备方法

为解决上述问题,芯达茂设计了一种新的Super Junction MOS器件制备方法。该方法通过加入Split-gate结构,结合Super_Junction和Split-Gate的优点,有效降低MOS的Qg和Rdson,提高开关速度及减少开关损耗。

关键观点3: 制备流程

文章详细描述了这种新的Super Junction MOS器件的制备流程,包括形成第一沟槽和第二沟槽、全面淀积P+型杂质、CMP研磨、表面场氧化、光刻蚀刻、形成第三沟槽、栅氧化层的生长、多晶硅的淀积、B注入形成P+沟道区、As注入形成N+源极区等步骤。


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