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单片集成的短波红外光电二极管阵列

MEMS  · 公众号  ·  · 2024-10-19 00:00

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短波红外(SWIR)成像技术在多个领域具有重要应用,但目前使用的半导体材料如锗(Ge)、铟镓砷(InGaAs)和汞镉碲(HgCdTe)等存在成本高和集成难度大的问题。碲硒合金(TeₓSe₁₋ₓ)作为一种新型红外材料,因其简单的元素组成、可调的带隙、低毒性和低熔点,显示出与硅基读出集成电路(ROIC)单片集成的潜力。TeₓSe₁₋ₓ具有独特的一维晶体结构,能够减少悬挂键缺陷,从而提高光电探测器的性能。然而,对于非(hk0)取向的TeₓSe₁₋ₓ薄膜,表面悬挂键缺陷需要有效的钝化策略。目前,TeₓSe₁₋ₓ薄膜光电探测器存在暗电流大的问题,限制了其在大规模阵列中的应用。为了提高性能,需要通过引入适当的界面层来消除元素扩散和钝化ZnO/TeₓSe₁₋ₓ界面处的悬挂键缺陷。 据麦姆斯咨询报道,近日,华中科技大学唐江教授和陈超副教授 ………………………………

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