Science | 事件响应（Event-responsive）扫描透射电子显微术

主要观点总结

本文主要介绍了事件响应显微术在扫描透射电子显微镜（STEM）技术中的应用。事件响应显微术通过精确控制电子束剂量，实现了在保持图像质量的同时降低样品损伤的目标。文章还详细描述了事件响应成像的技术原理、实践案例及其在未来领域的应用前景。

关键观点总结

关键观点1: 事件响应显微术在STEM技术中的应用

事件响应显微术是一种新型的电子显微技术，通过精确控制电子束剂量，实现了在保持图像质量的同时降低样品损伤的目标。该技术主要应用于ADF成像，但在与其他先进技术结合时具有广泛的应用前景。

关键观点2: 事件响应成像的技术原理

事件响应成像的技术原理是基于事件响应的显微成像技术，通过测量达到电子计数阈值所需的时间，而不是等待固定时间，来提高每个电子获得的信息量。该技术通过电子束消隐器系统在达到预定检测计数后停止电子束照射，从而减少总电子通量。

关键观点3: 实践案例

文章介绍了一些实践案例，包括在人源单核细胞观察和沸石成像中的应用。研究结果表明，事件响应成像技术能够在保持图像质量的同时显著降低样品所受电子束辐射剂量，为电镜在生物样品观察等领域的应用开辟了新途径。

关键观点4: 事件响应成像的应用前景

事件响应成像技术具有广泛的应用前景，特别是在材料科学、生物学等领域。该技术的自适应性和灵活性使得研究易损材料成为可能，推动了相关领域的创新与进步。

文章预览

扫描透射电子显微镜 (STEM) 技术在近年来取得了显著进展，这主要得益于电子光学系统、探测器技术的革新。这种先进的显微技术通过电子束对样品进行扫描，并利用多个探测器同步采集各类信号，实现了对材料多维度特性的表征。 STEM 技术最显著的优势在于其卓越的分辨能力，可实现埃级以下的空间精度，这使得研究人员能够在原子尺度上观察和分析样品的形貌、化学组成、电子结构等特性。然而，这项技术在实际应用中面临着一个根本性的难题： 如何在保持图像质量的同时降低样品损伤。 这一技术权衡体现在 电子束剂量 的选择上。过高的剂量虽然可以提供更好的信噪比和更清晰的图像，但会对样品造成不可逆的损伤；过低的剂量则难以获得足够的信号强度。随着像差校正器和四维探测器等新技术的引入，这一矛盾更加突出。这些优化虽然提 ………………………………