超级干货丨TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图超详细教程

文章预览

今天带给大家的是如何分析统计SEM/TEM晶粒，所用的软件是Nano Measurer和Origin。Nano Measurer在操作方面，比Image J、DigitalMicrograph（DM）要简单很多。 它可以对电镜图片颗粒大小、长度、孔径等尺寸统计分析，自动绘制统计分布图，粒径的总结果和最终统计结果由*.txt文件输出。 Nano Measurer软件，界面简洁，易上手，有需求的朋友请下载使用！ 添加下方微信好友，回复“ NM ”下载。 Nano Measurer软件安装 解压安装包，运行Nano Measurer，选择安装语言，一直点击下一步安装，直到整个软件安装完。 关于安装中msvbvm60.dll的错误： 少数同学反馈安装时，系统会弹出关于msvbvm60.dll文件错误对话框。请选择"忽略(Ignore)"，继续安装。然后将上图中的msvbvm60.dll文件复制到计算机的C:\windows\system32目录下.\ Nano Measurer使用教程 运行Nano Measurer 1.2软件，打开需要统计的SEM图片（J ………………………………