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▲第一作者:Bingbing Zhu, Qingnan Cai, Yaxin Liu, Sheng Zhang 通讯作者:Lei Zhou & Zhensheng Tao 通讯单位:复旦大学 DOI:10.1038/s41565-025-01873-9 (点击文末「阅读原文」,直达链接) 研究背景 全介质光学纳米谐振腔作为低损耗、多功能且高度适应性强的组件,在操纵电磁波和增强光物质相互作用的纳米光子结构中崭露头角。然而,实现对介质纳米谐振腔内近场的完整三维表征面临着巨大的实验挑战。 研究问题 本文开发了一种利用高阶边带产生来成像介质光学纳米谐振腔内近场波模式的技术。通过利用各种谐波阶次的相位敏感性,能够检测到不同深度的近场分布,本文在微米厚的硅 anapole 谐振腔内实现了横向分辨率约为920纳米、纵向分辨率约为130纳米的三维断层扫描和近场成像。本文的方法具有高对比度的偏振敏感性和相位解析能力,提供了全面的矢
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