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EMC案例:某型号ECU辐射抗骚扰失效及整改措施

21ic电子网  · 公众号  · 半导体  · 2024-10-22 20:04

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EMC知识合集 (现场测试图) 01 实验现象 (现场测试图) 案例还原,一款汽车用ECU,在做辐射抗扰测试的时候出现异常且不能恢复。 测试对象: 某型号ECU 测试项: 辐射抗扰_ALSE方式(RI),严酷度:100V/m,测试步长:5M,干扰施加时间:2s。 失效模式: 水平天线,CW模式,在600M附近,ECU内部的集成低边驱动芯片输出全部关断,且不能自动恢复,需重新重新上电。 02 原因分析 (整改前主控板回路) 设计人员通过在RI测试过程中,通过对集成驱动芯片的电源(5V供电)、RESETPin脚、使能ABEPin脚、MSC通讯总线进行实时监控;在故障现象发生时,可以观察到使能ABEpin脚电平由正常状态下的5V电平下跌到3.4V电平左右,低于集成驱动芯片的使能管脚识别阀值3.5V,因此驱动芯片输出全部关断。 对ABE使能Pin脚进行分析后发现,在原理设计中,将ABEpin脚的参考地GN ………………………………

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