主要观点总结
本文围绕某行车记录仪的辐射超标问题展开，具体分析了辐射超标的原因并给出了相应的对策。文章首先描述了测试时出现的问题和辐射测试数据，然后对辐射源头进行了分析，接着解释了辐射产生的原理，最后提出了处理措施并进行了思考和启示。
关键观点总结
关键观点1: 问题描述
行车记录仪测试时发现辐射超标，具体频点是84MHZ、144MH、168MHZ。
关键观点2: 辐射源头分析
产品只有一块PCB，上有12MHZ的晶体。超标频点恰是12MHZ的倍频，分析认为144MHZ超标点与晶体有关。
关键观点3: 辐射产生的原理
晶体位于PCB边缘时，与参考接地形成容性耦合，导致寄生电容和共模辐射。晶体在PCB中间时，大部分电场控制在晶振与工作地之间，辐射降低。
关键观点4: 处理措施
将晶振内移并敷铜，修改后的测试结果显示辐射发射明显改善。
关键观点5: 思考与启示
高速印制线或器件与参考接地板之间的容性耦合会产生EMI问题，敏感部件布局在PCB边缘可能产生抗扰度问题。为解决此问题，可以在印制线边上布一根工作地线并通过过孔与工作地平面相连。
文章预览
一、问题描述： 某行车记录仪，测试的时候要加一个外接适配器，在机器上电运行测试时发现超标，具体频点是84MHZ、144MH、168MHZ，需要分析其辐射超标产生的原因，并给出相应的对策。 辐射测试数据如下： 二、辐射源头分析： 该产品只有一块PCB，其上有一个12MHZ的晶体。 其中超标频点恰好都是12MHZ的倍频，而分析该机器容易EMI辐射超标的屏和摄像头，发现LCD-CLK是33MHZ，而摄像头MCLK是24MHZ； 通过排除发现去掉摄像头后，超标点依然存在，而通过屏蔽12MZH晶体，超标点有降低，由此判断144MHZ超标点与晶体有关，PCB布局如下： 三、辐射产生的原理： 从PCB布局可以看出，12MHZ的晶体正好布置在了PCB边缘，当产品放置与辐射发射的测试环境中时，被测产品的高速器件与实验室中参考接地会形成一定的容性耦合，产生寄生电容，导致出现共模辐射，寄生电
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