意大利技术研究院Annamaria Petrozza最新AEM：浅缺陷和深缺陷如何驱动锡碘化物钙钛矿中的载流子动力学

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由于电子掺杂和载流子捕获之间的相互作用，锡卤化钙钛矿表现出复杂的载流子动力学，这两者都会影响器件性能。评估陷阱状态的影响具有挑战性，因为光生电子与掺杂空穴的复合和捕获的时间尺度经常重叠。鉴于此，2025年1月23日 意大利技术研究院Isabella Poli Petrozza 于AEM刊发浅缺陷和深缺陷如何驱动锡碘化物钙钛矿中的载流子动力学的研究成果，瞬态吸收光谱(TAS)用于广泛的光谱和时间范围，从可见光到近红外，从飞秒到微秒，以探测亚带隙和带边跃迁，同时通过化学处理操纵缺陷和掺杂密度。专注于三碘化锡钙钛矿，由于高电子掺杂密度导致的快速载流子复合被认为是载流子损失的主要来源。然而，由两种不同类型的缺陷引起的深电子陷阱状态被确定：表面Sn(IV)缺陷和锡间隙。表面Sn(IV)缺陷在光生载流子的损失中起着关键作用，但可以通过添 ………………………………