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1 引言 X射线衍射分析（XRD）是材料、地质、物理、化学等众多学科中是最基本但也是最重要的一个表征手段。它被广泛地用来研究材料的相结构、相成分、晶粒尺寸、晶粒取向和微结构等。然而，最常用的多晶衍射法有着一些本征缺点，它得到的谱峰重叠严重，从而造成大量材料结构信息损失。1967年，荷兰晶体学家Hugo M. Rietveld提出了对中子衍射数据进行Rietveld全谱拟合的方法，克服了多晶衍射仅利用积分强度的不足，充分利用了谱图的所有信息，可以获得多晶材料的结构信息。后来，Rietveld方法也被用来对XRD数据进行分析。随着算法的完善和应用的推广，Rietveld方法已经成为获得结构信息和修正晶体结构最重要的方法之一。 2 Rietveld法基本原理 Rietveld法是在给定初始结构模型和参数的情况下，利用一定的峰形函数来计算多晶衍射谱，同时利用最小 ………………………………