对于多量子比特系统的性能来说,实现量子比特之间的高保真纠缠操作,是至关重要的。固态材料平台,尤其易受到材料引起的量子比特之间可变误差的影响,这会导致性能不一致。 今日,澳大利亚 新南威尔士大学(The University of New South Wales)Tuomo Tanttu,Andrew S. Dzurak等,在Nature Physics上发文,研究了自旋量子比特处理器中的错误,将错误及其物理起源联系起来。 在技术重要的硅金属氧化物半导体量子点平台中,两个量子位门的保真度超过99%一致和可重复操作。通过长期分析多个设备中的物理错误和保真度,可以确保捕获变化和最常见的错误类型。物理误差源包括单个量子比特上的慢核噪声和电噪声,以及依赖于所应用控制序列的上下文contextual噪声。还研究了量子位设计、反馈系统和鲁棒门设计的影响,以便为未来可扩展高保真控制策略的设计提
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