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近日, 松山湖材料实验室赵恩岳团队 在 Energy & Environmental Materials 上发表题为: “ Lowering sodium-storage lattice strains of layered oxide cathodes by pushing charge transfer on anions ” 的研究型论文。 亮点 1. 首次强调阴离子氧化还原电荷补偿在稳定层状氧化物的储Na晶格结构方面的积极作用。 2. 推动阴离子上的电荷转移能够提高材料的氧化还原活性和整体的能量密度。 3. 推动阴离子上的电荷转移可以降低层间 O−O 排斥力,抑制多次相转变,降低晶格应力。 研究背景 在众多钠离子电池正极材料候选者当中, 层状过渡金属(TM)氧化物(Na x TMO 2 )具备相对较好的发展前景,是一类最早引起广泛关注并深入研究的嵌入型化合物。然而,在伴随Na + 脱嵌的电化学过程中,由层间O−O排斥力增加引起的O-型和P-型之间的多次相变通常发生在Na x TMO 2 中,
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