案例 | 研华COM-HPC Size C模块SOM-C350，助力存储ATE测试设备快速部署

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导读 随着人工智能和大数据的发展，企业数字化转型加速，数据量剧增，推动了存储市场需求的逐年增长，针对存储测试设备的需求也越来越复杂和多样化。研华 SOM-C350 高端COM-HPC解决方案，具备 出色算力、高速数据传输、丰富I/O接口 ，且 兼容PCIe Gen5 ，是存储ATE测试设备的优选方案。 市场背景 IDC数据预测，到2025年，企业级SSD全球出货量将增至约7436万块。存储产品需求爆炸性增长的同时也在不断地迭代更新，为保证存储产品的快速生产和高品质，厂商对存储自动测试设备（ATE）的性能、内存容量、I/O扩展性、传输速度和PCIe兼容性等方面的需求也越来越高。 客户应用 该客户的主营业务是内存及存储模组，其固态硬盘（SSD）产品在出厂前必须进行SLT（system level test）测试，存储自动测试设备（ATE）通过PCIE连接的FPGA发射信号并接收反馈以判断存储 ………………………………