主要观点总结
文章介绍了NI测试测量技术研讨会全国巡回的详细信息，特别是深圳站的内容。研讨会分为LabVIEW及测试测量技术分论坛和半导体及消费电子分论坛，涵盖了最新的LabVIEW开发技巧、测试测量技术、半导体和消费电子应用方案等。现场有LabVIEW首席专家交流、技术演讲和实机展示，并提供幸运好礼。文章还提到了具体的活动时间和地点，以及半导体及消费电子分论坛的相关内容。
关键观点总结
关键观点1: 大会基本信息
NI测试测量技术研讨会全国巡回盛大开启，首站深圳定档12月12日，包含LabVIEW及测试测量技术分论坛和半导体及消费电子分论坛。
关键观点2: 主要议题
研讨会将围绕最新LabVIEW开发技巧、测试测量技术、半导体和消费电子应用方案展开，包括LabVIEW新特性汇总及开发技巧分享、开源LabVIEW编程框架介绍、射频参数测试和NI射频与无线平台新产品介绍等。
关键观点3: 现场活动
现场有LabVIEW首席专家面对面交流、8场技术演讲和9个实机展示，还有幸运好礼。活动现场参会名额有限，欢迎报名参加。
关键观点4: 半导体及消费电子分论坛内容
包括实验室自动化多通道PMIC最佳实践、最新VST技术覆盖射频研究到量产应用、从芯片、模组到手机的功耗测试以及基于PXI平台的光电子应用测试方案等内容。
文章预览
大会基本信息 PART 01 NI测试测量技术研讨会全国巡回盛大开启！深圳、北京、西安、武汉以及更多城市敬请期待。 首站深圳定档12月12日 ，研讨会将分为LabVIEW及测试测量技术和半导体及消费电子两个分论坛，围绕最新LabVIEW开发技巧，测试测量技术，半导体和消费电子应用方案展开。 现场更有 LabVIEW首席专家面对面交流 ， 8场技术演讲和9个实机展示 以及幸运好礼，现场参会名额有限，欢迎报名参加。 活动时间 12月12日，13:30-17:10（12点开始签到） 活动地点 深圳威尼斯英迪格酒店- 一层，威尼斯宴会厅 （地址：深圳市南山区华侨城深南大道9026号） 码上报名 NI测试测量技术研讨会深圳站 分论坛议程剧透 PART 02 LabVIEW及测试测量技术分论坛 1 LabVIEW新特性汇总及开发技巧分享 本技术会议将汇总介绍近年来LabVIEW的新特性，尤其是在提升测试开发效率上
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