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1. PID效应 PID的英文全称是:Potential Induced
Degradation, 即电势诱导衰减。 2005年美国SunPower公司首次发现并提出PID效应,指组件长期在高电压工作,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池片表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准,衰减程度可达50%,但此衰减是可逆的。 2. PID效应产生机理 ① 高电压作用 光伏系统大规模应用导致系统电压越来越高,电池组件往往需要多块串联才能达到逆变器的MPPT工作电压,这导致了很高的开路电压和工作电压。 以STC环境下450W的72片电池组件为例,20串电池组件的开路电压高达1000V,工作电压高达800V。 由于光伏电站需要配套防雷接地工程,一般组件的铝合金边框都要求接地,电池片和铝框之间就会形成接近1000V的直流高压
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