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研究背景: 二维材料因其物理性质丰富性、种类多样性以及在纳米电子器件领域的广阔应用前景而备受关注。其中,二维层状材料( LMs )的薄层样品可通过多种途径获取,如机械剥离和化学气相沉积( CVD )等方法。相比之下,二维非层状材料( NLMs )作为二维材料库的重要补充,由于不具备层间易于分离的特性,其制备更多依赖于 CVD 等方法。然而,现有的 CVD 方法生长的二维 NLMs 通常与基底间形成强化学键结合以及紧密的面接触,限制了对材料的本征物理性质的揭示,也妨碍了在器件制备环节中必要的材料转移操作。另一方面,二维 LMs 能够通过门控离子插层技术,在其范德华间隙内嵌入离子,从而引发新奇的相变,实现对其物理性质的调控,而这一策略在二维 NLMs 中难以实施,原因在于 NLMs 结构中缺失范德华间隙,限制了通过离子插层手段
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