Nat.Electron.：快速低温表征1024个集成硅量子点设备

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摘要： 随着量子处理器复杂性的增加，新的挑战不断出现，例如设备变异性的管理和与支持电子设备的接口问题。硅量子点中的自旋量子比特可能能够解决这些挑战，因为它们具有控制保真度高和与大规模集成兼容的潜力。在本研究中，报告了 将1,024个独立的硅量子点器件与片上数字和模拟电子设备集成在一起，所有设备都在低于1 K的温度下运行。 高频模拟多路复用器提供了对所有设备的快速访问，且电气连接最少，使得量子点阵列的特征数据可以在不到10分钟内获取和分析。这是 通过利用射频反射测量和最先进的信号完整性实现的，其典型信噪电压比在3.18微秒的积分时间内超过75。 通过自动化的机器学习程序提取关键的量子点参数，以评估量子点的产量并理解器件设计的影响。我们发现量子点参数与室温晶体管行为之间的相关性，这可以作为 ………………………………