光学系统测量解决方案

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 光学系统测量解决方案  Optical system measurement 0 1 光学系统像差测量 光束通过不完美的光学系统时可能会产生像差，这些像差可能源于透镜形状不规则、材料的不均匀性或组装过程中的误差等因素。利用FIS4传感器，可以捕捉到波前的全貌，并利用Zernike多项式对像差进行量化。这种方法能够精准地量化波前的局部变化，并辅助识别不同类型的像差，如球差、彗差、像散、场曲和畸变等。FIS4传感器的一个显著优势是其简单的操作性和对环境变化的强大适应能力，使其成为光学质量控制和光学元件评估的理想选择。通过提供详尽的波前测量，该传感器不仅 能够帮助发现光学系统的缺陷，还能够指导光学设计的改进和优化 。 测量优势 单帧图实现 完整测量 高分辨率 易于调节集成 波前分布 像差分析 像质评价 多达512×512 相位采样点 高动态范围 纳米级 ………………………………