在线讲座：5G多端口元器件测试（3月15日）

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会议主题： 5G多端口元器件高效测试 会议时间： 2019年3月15日 星期五 上午 10:00-12:00 演讲公司： Keysight Technologies, Inc. 参与方式： 点底部阅读原文，填写个人信息报名参会。全新议题研讨会，欢迎分享到您的朋友圈。 会议介绍： 5G时代追求的高数据速率、低时延及大容量场景需求对元器件的性能提出了更高的要求，例如支持的频段更多，带宽更宽，频率更高，并且数量的增多与集成化提高导致尺寸与成本压力也随之而来。在元器件测量的领域，高性能与高效率从来都是一个折中，厚此就会薄彼。本次研讨会回顾客户测量5G元器件时的测量挑战与痛点，给出全新测试方法，并回答相关问题。 内容提纲： 1、5G元器件的测量挑战 2、现有测试 方法 及局限性 3、全新测试方 ………………………………