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文章链接: https://www.nature.com/articles/s41928-024-01245-6 摘要 基于二维半导体的集成电路需要超薄的栅极绝缘体,能够提供高界面质量和电介质可靠性,减少电活性陷阱,并实现高效的栅极控制。然而, 现有的二维绝缘体在带隙、击穿强度、介电常数、漏电流和偏置温度稳定性方面无法提供良好的平衡。 在此,我们展示了通过缓冲层控制的外延生长工艺,在云母基底上获得单晶镁铌酸盐(MgNb₂O ₆ )。原子级薄的MgNb₂O ₆ 晶体具有宽带隙(约5.0 eV)、高介电常数(约20)、高击穿电压(约16 MV cm ⁻ ¹)和良好的热稳定性。MgNb₂O ₆ 可以与单层二硫化钼(MoS₂)形成范德华界面,且具有极低的陷阱态密度。使用MgNb₂O ₆ 栅介电层的MoS₂场效应晶体管 表现出0.9 mV (MV cm ⁻ ¹) ⁻ ¹以下的滞后现象,次阈值摆幅为62 mV dec ⁻ ¹,开关电流比高
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