一作+通讯，Nature！

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第一作者：Tomas Aidukas 通讯作者：Tomas Aidukas，Mirko Holler 通讯单位：瑞士保罗谢勒研究所 DOI： https://www.nature.com/articles/s41586-024-07615-6     研究背景 科学、医学和工程的进步依赖于成像技术的突破，特别是从功能系统（如集成电路或哺乳动物大脑）中获取多尺度、三维信息。实现这一目标通常需要结合电子和光子检测方法。虽然电子显微镜通过对表面层的连续、破坏性成像提供了纳米级分辨率，但叠层X射线计算机断层扫描（ptychographic X-ray computed tomography）提供了非破坏性成像，并且最近已将分辨率提高到了七纳米。     本文亮点 本文开发实施了爆发式ptychography，克服了实验不稳定性，并实现了更高的性能，以4纳米的分辨率和快170倍的采集速率，即每秒14,000个分辨率元素(resolution elements)。另一项关键创新是断层反向传播重建(tomographic back-propagation r ………………………………