李华伟｜数字芯片测试与可测试性设计

文章预览

第132期国际名家讲堂 132期 组织单位 ➯ 主办单位 ： 芯动力人才计划®项目办公室、国家集成电路设计深圳产业化基地 ➯ 支持单位 ： SEMI China、新微创源孵化器、上海芯聚辉、上海ICC（上海集成电路技术与产业促进中心）、上海清华国际创新中心、南京集成电路产业服务中心（ICisC）、清华大学上海校友会半导体专委会、浦东工业技术研究院、广东省集成电路行业协会、南京集成电路行业协会、浙江省半导体行业协会、安徽省半导体行业协会、无锡集成电路学会、成都集成电路行业协会、杭州国家芯火平台、合肥国际芯火双创平台、第三代半导体产业技术战略联盟、求是缘半导体联盟 ➯ 支持媒体 ： 芯榜、是说芯语、半导体行业联盟、半导体行业观察、半导体圈、是说芯语、全球电子市场、半导体产业联盟、中国半导体论坛、半导体行业圈、半导 ………………………………