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1.题目： An enhanced tool for probing the microscopic behavior of granular materials based on X-ray micro-CT and FDEM （ 基于X射线显微CT和FDEM的颗粒材料微观行为探测增强工具 ） 2.关键词： 颗粒材料； X射线显微计算机断层扫描； FDEM； 粒子匹配和跟踪； 微观动力学； 粒子内接触力 3.摘要： 本研究提出了一种将X射线显微计算机断层扫描测试与有限元和离散元混合方法相结合的增强工具，以研究颗粒材料的力学行为。 我们首先在X射线显微CT下对渥太华砂进行了最小三轴试验。然后，进行球谐分析来表征粒子的多尺度形态特征，并将其用于粒子匹配。粒子跟踪算法即使在大应变间隔下也能确保粒子配置之间的匹配精度。为了探测粒子内的接触力，我们从X射线图像数据中重建了数值样本。在不校准材料参数的情况下，FDEM模拟与实验记录的渥太华砂的总体响应在数量上一致
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