可靠性测试 – 功率循环测试

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（一）背景介绍 功率半导体器件，尤其是绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor, IGBT)，一直是新能源、轨道交通、电动汽车、工业应用和家用电器等应用的核心部件。硅基 IGBT 器件由于驱动功率小和饱和压降低，而且具有电压等级高和电流范围广的优势，成为各个领域的中流砥柱。可靠性成为继器件特性表征外最重要的质量评估手段和发展目标，也是近几年国内研究机构和应用方最为关注的研究领域。 功率循环测试一直被工业界和学术界认为是考核功率器件封装可靠性最重要的可靠性测试之一，也是进行器件寿命模型建立和寿命评估的根本。它是通过外部负载电流通和关断来模拟器件实际应用的结温波动过程，并通过一定程度的加速老化以提前暴露器件封装的薄弱点。欧洲电力电子中心发布了AQG324 标准，专门针对电动汽车用功率模块的 ………………………………