Nano Lett：利用镧系元素敏化的DNA折纸技术在单粒子水平上可视化生物分子辐射损伤

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精确监测生物分子的辐射损伤对于了解X射线诱导的细胞损伤和提高临床放疗的准确性而言至关重要。有鉴于此， 福州大学杨黄浩教授和陈秋水教授 构建了镧系-DNA折纸纳米剂量计，并将其用于在单粒子水平上实现对辐射损伤的直接可视化。   本文要点： （1） 镧系离子(Tb 3+ 或Eu 3+ )配位的DNA折纸纳米传感器能够增强X射线辐照的敏感性。研究者通过原子力显微镜(AFM)揭示了Eu 3+ 敏化的DNA折纸在X射线照射下的形态变化，从而证明了由电离产生的电子和自由基所造成的损伤。此外，实验也进一步证明了与Eu 3+ -DNA折纸相集成的芯片能够精准监测辐射介导的癌症放疗。 （2） 在剂量相当的X射线照射下，该纳米传感器的定量结果与流式细胞术和组织学检查的趋势相一致，因此能够为临床前应用研究提供一种经济实惠且用户友好的可视化工具。综上所述，该研 ………………………………