芯课堂 | 芯片抗干扰测试方案

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MCU芯片对所在环境中存在的电磁干扰须具有一定程度的抗扰度，确保使用该芯片的设备能正常运行。国际电工委员会（IEC）制定了多项国际标准，其中与MCU芯片相关的有IEC61000-4-2 （静电）， IEC61000-4-4 （群脉冲），IEC61000-4-6 （传导）等。这些国际标准根据应用场景，制定了干扰模式和干扰源各项标准，并且给出评估和分级方式。然而实际应用场景千变万化，国际标准也不能确保百分百覆盖所有情况。   家电类产品，一般都是通过交流电供电，同时也会对交流电进行控制，驱动大功率部件，比如电机，压缩机等。交流电出现通断情况下，会产生电磁场干扰MCU芯片。下面我们描述一个简易但有效的测试方式评估MCU芯片对抗此类干扰的能力。   如下框架图，我们通过MCU产生1Hz或更高的方波控制继电器模块闭合。这里我们用了华芯微特最新的产品SWM241。 ………………………………