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这是一篇关于ARM CPU故障注入的论文选读 论文来源 论文标题：Oops, Glitched It Again: Fault Injection and Rooting Android Devices 发表期刊：USENIX Security Symposium 2023 发表时间：2023年 作者： Patrick Schaumont
Navid Emamdoost
Mihai Christodorescu 主要研究了多重故障注入（MFI）技术及其对ARM TrustZone-M设备的影响。研究提出了µ-Glitch平台，这是一种能够注入多个协调电压故障的新型故障注入框架，通过该平台，攻击者可以在单个触发信号下向目标设备注入多个电压故障，从而在单次执行目标固件时攻击多个故障目标。 摘要 本文详细介绍了一种名为µ-Glitch的多重电压故障注入（MVFI）平台，这是一种针对ARM CPU的能够绕过ARM TrustZone-M设备的防护措施。本文将描述µ-Glitch平台的设计和实现，展示具体的代码实例，并分析实验数据，做一个学习记录。 1. 背景介绍 1.1 故障注入技术 故障
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