药物晶体粉末XRD图谱分析方法

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前言：行业内公认，X-射线衍射图谱（XRD）是确定多晶型最可靠的依据，XRD图谱也常被称为晶型的“指纹”。由于有机药物晶体峰位多且杂，重叠严重，严格意义上的单纯图谱比较，往往得出生产药品晶型与标准品完全不同的结论，这种图谱对比差异在原料药申报及研究生产过程中带来诸多困扰。因此需要根据研究目的，有策略的系统分析XRD图谱数据。  XRD图谱分析中的主要问题 1、粉末衍射XRD图谱与标准图谱比对 涉及到晶型的原料药申报和研究生产中，均需要与标准品或者理论图谱比较，粉末X-射线衍射仪测试后处理得到的XRD数据分为以下三类：（标准图谱的获取方式详见20201215期推文：《被忽略的“XRD标准谱”的获取技巧》）。 （1）2θ角度和晶面间距（d值）确定多晶型类型，是药物API中原子和分子的排列方式及位置信息；是晶型的特征信息。 ………………………………