搞芯片，不懂DFT可不行！

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相信很多ICer们在Light芯片的过程中无论前后端都听过DFT设计测试，DFT全称Design for Test(即可靠性设计)，众所周知，测试的目的是为了保证芯片成品的质量以及功能逻辑的可靠性的必须措施。在十年前，芯片的测试还多为板级仿真波形测试，即用示波器等硬件设备去勘测芯片的逻辑功能是否正常，但是随着芯片复杂性的提升以及功能逻辑数目的增加，基础的板级测试已经不能保证整体的覆盖率和最后的良率了，芯片测试也逐渐覆盖到设计制造的全流程当中。 小编将从 设计流程以及verilog HDL，故障和缺陷模型的建立，故障仿真应用与方法，测试向量生成方法及算法，确定性测试生成算法，扫描法进行测试电路设计，逻辑内建自测试，测试压缩，MBIST测试存储器 等11章内容出发，结合理论与实际，讲解一下DFT设计流程和注意事项。 首先要明白为什么要进 ………………………………