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电容故障检测:揭密电容、ESR、相位角和耗散因数

21ic电子网  · 公众号  · 半导体  · 2024-11-15 20:22

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电容器是电子产品中不可或缺的基本组件,主要用于旁路和去耦。根据电容类型及其应用的不同,有的很容易老化、故障或失效。 检测失效的电容很简单,有时只需要通过目视检查即可,但更多情况下则需要使用LCR表(电感(L)、电容(C)和电阻(R))来查找故障。本文介绍在维修过程中最常遇到电解、聚酯(MKT)和多层片式陶瓷电容(MLCC)等类型电容发生的故障情况。 让我们从四种测试参数加以考虑:直流(DC)电阻、温度、电容、等效串联电阻(ESR)、耗散因数(D)和相位角(θ)。 去耦电容与旁路电容 “去耦电容”(decoupling capacitor)和“旁路电容”(bypass capacitor)这两个名词经常被互换使用,而且它们的功能重叠,容易导致混淆。实际上,它们的用途类似,但在电路中的应用可能影响所使用的名称。 去耦电容:去耦电容主要用于隔离一部分的电路,为交流(AC)信号提供 ………………………………

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