电子叠层衍射成像（ptychography）技术解读

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透射电子显微镜 （ TEM ） 中的叠层成像技术基于探测大量由电子束探针扫描样品时产生的衍射图案。与传统的衍射实验不同，在传统的衍射实验中，散射 电子 束的 相位信息 会丢失，通过扫描整个样品并记录衍射图案 ， 反演分析可以重建 电子 束的复振幅 ， 最终确定原子位置。 如果电子 束 探针 持续变小 ， 就 可以远小于散射体之间的距离 ， 那么 衍射斑点也会变宽并相互干涉 ( 见图 1 ) 。分析这种干涉 信号 可以提取更多信息 ， 如定义物理性质的 原子核位置和电子结构的微小细节 ， 并能够可视化 电场、轨道排序、铁电行为 ， 甚至可能是 局部自旋的 微小 细节 。 叠层成像和相关技术有望彻底改变电子显微镜领域 ， 就像它们在 X 射线晶体学中所做的那样 ， 以及像像差校正对成像所实现的那样 ， 前提是能够克服一些关键挑战。 这一机遇 ………………………………