Npj Comput. Mater.: 揭秘纳米世界：四维STEM与AI的先进成像技术

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海归学者发起的公益学术平台 分享信息，整合资源 交流学术，偶尔风月 高能电子在穿过物质时对局部结构极为敏感，能够收集大量关于晶格缺陷与应变、电磁性质、化学成分及电子结构的信息。这种灵敏度被应用在透射电子显微镜（TEM）中来研究结构与性质的关系，人们在提高分辨率、加快成像速度和开发新的成像方式等方面也不懈努力。高动态范围直接电子探测器的出现引发了一个真正的范式转变，它不再依赖于将电子转化为光子，使空间分辨衍射成像成为可能，为四维扫描透射电子显微镜（4D-STEM）的高分辨率测量提供了新的机会。4D-STEM的一个显著优势在于出色的信息密度，在每个探针位置上都会获得动态散射电子的图像。然而，由于缺乏能够充分解释多种动态散射过程的经验模型以及变化的信噪比，4D-STEM数据的分析常常受到挑战。 Fig. 1 | ………………………………