基于MEMS芯片的二维材料异质结构调控，可用于非线性光学探测和拉曼光谱

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导读 二维材料（2DM） 是一类前景广阔的材料，通过静电栅极和范德瓦尔斯堆叠，可以揭示新物理现象（如拓扑效应、强关联效应）并推动新型器件的应用。过去二十年，人们主要依靠干法和湿法转移技术组装二维异质结构。这些方法尽管可靠且易操作，但随着堆叠结构的复杂化，局限性逐渐显现，每个堆叠配置都是独特且不可重新配置的，导致对堆叠参数的探索变得困难，许多结论仅基于少量样本得出。 动态调控二维材料转角的技术对于未来研究至关重要。现有的基于扫描显微镜的平台虽然实现了旋转角度控制和隧道光谱测量，但其价格昂贵且专业化程度高，限制了广泛应用。因此，该研究探索了一种更通用的方法，在器件层面操控二维材料异质结构的堆叠。 该研究设计并实现了一个基于微机电系统（MEMS）的平台，具备高度灵活性和精确度， ………………………………