研究透视：透射电镜-事件响应 | Science

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透射电子显微镜transmission electron microscopy，一直存在的主要限制之一就是，高能电子与任意样品相互作用，而所造成的辐射损伤。 近日，爱尔兰 都柏林大学（University College Dublin）Jonathan J. P. Peters，Lewys Jones等，在Science上发文，通过重新考虑成像的基本原理，报道了一种电子显微镜的事件响应方法，可为给定的束流提供更多关于样品的信息。 测量达到电子计数阈值的时间，而不是等待预定的恒定时间，从而改善了每个电子获得的信息。显微镜通过熄灭光束，以响应这些事件，从而减少所需的总剂量。这种方法，自动分配剂量，以在每个像素中，实现给定的信噪比，从而减少了信息收益递减相关联的过量剂量。 通过生物组织和沸石成像，实验证明，这种方法对光束敏感材料的广泛适用性。 Event-responsive scanning transmission electron microscopy.  事件响应扫描 ………………………………