革命性创新！这个成像技术登上​Nature！

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来源：纳米人 研究背景 科学、医学和工程领域的进步依赖于成像领域的突破，特别是从集成电路或哺乳动物大脑等功能系统获取多尺度三维信息。实现这一目标通常需要结合基于电子和光子的方法。电子显微镜通过对表面层的连续破坏性成像提供纳米级分辨率，而叠层X射线计算机断层扫描则提供非破坏性成像，最近已在小体积内实现了低至7纳米的分辨率。 关键问题 然而，多尺度三维信息的获取主要存在以下问题： 1、目前的成像手段均存在较大的局限性 SEM仅探测样品表面，并且对表面充电很敏感，而TEM仅对薄切片有效。对于3D成像，要克服电子穿透力差的问题，TXM实现高分辨率需要纳米级的硬件稳定性和高数值孔径透镜。此外，许多样品类型由于与X射线的相互作用较弱，因此几乎没有吸收对比度。 2、TXM相位成像增加了实验的复杂性且降低了 ………………………………