主要观点总结
本文主要介绍了功率MOSFET在开关电源应用中的开关损耗问题,着重讨论了MOSFET在线性区工作时的微观动态过程,特别是零温度系数点ZTC(Zero Temperature Coefficient)的概念及其与热电不稳定性区域ETI(Electric Thermal Instability)的关系。文章还从MOSFET的内部结构出发,解释了RDS(ON)与热平衡变化过程,以及适合线性区工作的MOSFET的设计和工艺优化问题。
关键观点总结
关键观点1: 零温度系数点ZTC(Zero Temperature Coefficient)的定义和重要性
ZTC是功率MOSFET转移特性中的一个特殊点,对应着温度系数为0的电压值。在MOSFET开关过程中,跨越线性区时会产生热电不稳定性区域ETI,ZTC的理解对优化MOSFET的工作状态至关重要。
关键观点2: MOSFET内部结构对RDS(ON)和热平衡的影响
MOSFET由许多小元胞并联组成,每个元胞的电压和电流分布不一致会导致热不平衡。了解元胞的电压分布和电流路径对于理解MOSFET的热稳定性和电流分配至关重要。
关键观点3: 线性区工作的MOSFET的设计和工艺优化
减小功率MOS的管芯面积可能恶化器件的温度管理,设计和工艺优化需要考虑到热稳定性。新洁能公司采取特殊方法研发出适用于在线性区工作状态的MOSFET。
文章预览
引言 开关电源应用中,功率MOSFET工作于开关状态,在截止区和完全导通的饱和区之间高频切换,由于在切换过程中要经过线性区,因此产生开关损耗。本文着重介绍MOSFET开关在线性区的微观动态过程中,容易忽视的一个概念-零温度系数点ZTC,围绕ZTC展开的相关状态讨论。 MOSFET完全导通时,R DS(ON) 处于正温度系数区,局部单元的温度增加,电流减小温度降低,芯片具有自动平衡电流的分配能力。 但在跨越线性区时,会产生动态的不平衡,V GS 电压低,通常在负温度系数区,局部单元过热导致其流过更大的电流,结果温度更高,从而形成局部热点导致器件损坏,这样就形成一个热电不稳定性区域ETI (Electric Thermal Instability),发生于V GS 低于温度系数为0(ZTC)的负温度系数区。 一、 什么是零温度系数点ZTC (Zero Temperature Coefficient) 如图1功率MOSFET的转移
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