干货必读 | 光隔离探头为什么在双脉冲测试中不可或缺

主要观点总结

本文主要介绍了宽禁带半导体材料如碳化硅和氮化镓在双脉冲测试中的应用，强调了光隔离探头在双脉冲测试中的重要性。文章详细说明了双脉冲测试的作用，探讨了光隔离探头在测试碳化硅和氮化镓器件时的优势，包括高共模抑制比、低底噪、高精度和大测量范围等特点。同时，文章还对比了高压差分探头和光隔离探头的实测效果，突出了光隔离探头的性能优势。

关键观点总结

关键观点1: 宽禁带半导体材料在双脉冲测试中的应用

介绍了碳化硅和氮化镓等宽禁带半导体材料在耐高温、耐高压、低损耗和快速开关频率等方面的优势，以及它们在双脉冲测试中的重要性。

关键观点2: 双脉冲测试的作用

详细说明了双脉冲测试在评估电力电子器件开关性能、优化器件驱动和应用设计、故障诊断和仿真模型验证等方面的作用。

关键观点3: 光隔离探头在双脉冲测试中的优势

探讨了光隔离探头在测试碳化硅和氮化镓器件时的高共模抑制比、低底噪、高精度和大测量范围等优势。

关键观点4: 高压差分探头与光隔离探头的对比

通过对比高压差分探头和光隔离探头的实测效果，突出了光隔离探头在性能上的优势，包括高共模抑制比、低天线效应和寄生产安安全性。

关键观点5: 总结

总结了光隔离探头在双脉冲测试中的全面优势，并强调了麦科信光隔离探头在不二之选的重要性。

文章预览

宽禁带(WBG)半导体材料，如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)这些材料不仅在耐高温和耐高压方面表现出色，还具备低损耗、快速开关频率等特性。 然而， 要充分发挥这些先进材料的潜力，精确的测试和测量技术至关重要。 特别是在双脉冲测试中，光隔离探头不仅确保了测试的安全性，还提高了测试测量的准确性和可靠性。 本文将深入探讨光隔离探头在双脉冲测试中不可或缺的原因。 双脉冲测试的作用         双脉冲测试（DPT）是一种用于评估电力电子器件如IGBT（绝缘栅双极晶体管）或MOSFET（金属氧化物半导体场效应晶体管）等功率器件的开关性能的实验方法。该测试通过向器件施加两个短时间的电压脉冲，模拟器件在实际电路中的开关过程，进而测量和分析器件的开关特性，优化器件的驱动和应用设计，并用于故障诊断和仿真模型的验证。 双脉冲测 ………………………………