产品解密 | 极致优化整机效率，软开关技术在POWERQUARK中的创新

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快充技术的发展不断突破着功率极限。随着功率增大，芯片的温升效应随之显著，热损耗加剧，影响系统整体的能量转化效率，过热的芯片还可能带来安全性和使用寿命等方面的隐患。作为目前主流快充系统的核心器件，反激变换器的效率与整机温升和散热成本密不可分，如何进一步提升它的效率始终是电源设计工程师最关心的问题之一。 传统软开关拓扑：借助外围电路实现 开关损耗是反激变换器的主要损耗来源之一，由开通和关断过程中的电流和电压交叠引起。为提高系统效率，降低温度，实现软开关成为减少系统开关损耗的重要手段。在开关电源中，有多种拓扑均可实现软开关，如有源钳位 (ACF)、非对称半桥 (AHB)、谐振 (LLC) 等电路。 如下图所示，从电路结构上看，ACF 需要增加一颗高压开关管和高侧驱动，AHB 除高压开关管和驱动外还需增加 ………………………………