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在现代硅电子学中,应变工程发挥了关键作用,在20世纪90年代,作为迁移增压器mobility booster引入,并在21世纪初商业化。以互补金属氧化物半导体complementary metal–oxide–semiconductor (CMOS)兼容的方式,实现二维two-dimensional (2D) 半导体的类似进展,可提高2D材料晶体管的工业可行性。 今日,美国 斯坦福大学(Stanford University)Marc Jaikissoon,Eric Pop等,在Nature Electronics上发文,报道了氮化硅覆盖层capping layers ,可在传统硅衬底上赋予单层二硫化钼molybdenum disulfide (MoS2) 晶体管应变,在350°C的低热预算时,通过CMOS兼容方法提高了器件性能。 应变背栅和双栅二硫化钼MoS2晶体管的通态电流中值,分别增加高达60%和45%。当将晶体管沟道和触点,从微米级减小到200nm时,还发现了最大的性能提升,在仅有400nm触点间距的器件中,达到了488µAµm−1饱和电流。 模拟表明
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