评估电子元件老化和稳定性的高温老化方法

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了解由于使用石英晶体的温度和时间，以及应用外推方法、老化方程和Arrhenius方程，电子元件的老化和稳定性挑战。 即使有固定的输入，电子电路也不是完全稳定的；经常随时间和温度漂移。这些与理想行为的偏差会给精确测量增加相当大的误差。随时间漂移，也称为长期稳定性，是需要长时间高精度应用的关键因素。测量系统的初始精度误差通常可以通过初始校准来消除；然而，消除长期漂移的误差需要定期校准。此外，这些校准在某些工业、医疗、军事和航空航天应用中可能不切实际。 在这篇文章中，我们将介绍评估电子元件长期稳定性的高温加速老化方法的基础知识。虽然我们将以典型石英晶体的老化行为为例，但类似的概念有时也适用于其他组件。 石英晶体老化机理——传质效应 晶体的共振频率随时间而变化。石英晶体的两种主要老化 ………………………………