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文章链接:https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/adfm.202407746 摘要 随着人工智能(AI)和物联网(IoT)的快速发展,日益复杂和不断扩展的应用场景对当前的机器视觉能力提出了更高的要求。因此, 迫切需要在视觉设备中同时实现多样化的功能、简单的设计和高效的计算。 在此,该研究利用单个二维本征缺陷半导体In 2 S 3 开发了一种两端光电器件。该器件展示了波长选择性光电检测和神经形态视觉能力,这归因于与缺陷相关的电荷捕获/去捕获过程。作为光电探测器,该装置表现出473.6 A W −1 的高光响应度、1.6 × 10 5 %的高外部量子效率和359 nm 波长下0.3/1.4 ms的快速上升/下降时间。作为一体化神经形态视觉设备,在 671 nm 波长下成功模拟了光电驱动的基本突触功能,包括成对脉冲促进 (PPF)、短期可塑性 (STP)、长期可塑性 (LTP) 和“学
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