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0 1 【科学背景】 分析材料的磁结构及其相关的自旋位形对于固态物理学、无机化学和自旋电子学以及材料科学工程等其他领域都至关重要。磁结构通常由中子散射来确定。然而,中子散射的磁散射截面较小,因此测试时需要大量的样品。因而该方法不适合难以生长的样品,如大晶体或由薄膜、纳米粒子、纳米线和其他此类结构组成的电子器件。电子显微镜中硬件型像差校正的发展使原子分辨率的局部结构观察以及化学和振动分析成为可能。然而,在磁成像中,通过将样品置于强磁场中,利用电子能量损失光谱分析原子级自旋构型,这破坏了样品中磁有序的性质。尽管无磁场观测可以通过晶胞平均来可视化反铁磁体的固有磁场,但直接观测非均匀结构的单个原子层的磁场是具有挑战性的。 0 2 【创新成果】 近期, 日本株式会社日立制作所 Toshiaki Tan
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